自動晶圓光學檢測（Wafer AOI）

Camtek - 自動晶圓光學檢測 (Wafer AOI) 系統

Eagle - AP整合了 2D 和 3D 檢測和測量於同一平台內，保證在高性能下實現極高產能水平。• 下一代凸塊，高度直到 2um。• 超多數量的凸塊檢測和測量 (5千萬)。• 凸塊直徑和表面缺陷的..

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