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Robson Technologies Inc
RTI 的自動曲動追蹤系統是半導體行業的領先供應商。 MultiTrace 的客戶多是芯片制造商，封裝測試代工廠及廣為人知的私人測試實驗室。
“曲線追蹤 (Curve tracing)” 是用於尋找 IC 芯片中被電損壞的引腳的方法。MultiTrace 的產品提供廣泛的一系列解決方案，可以使用 powered curve trace 測試小型芯片的開路/短路和使用 Latch-up 方式來測試非常復雜的多電路的芯片。
什麼是 Curve Tracing?
"Curve tracing" 曲線追蹤是用於尋找 IC 芯片中被電損壞的引腳的方法。MultiTrace 產品提供了廣泛的一系列解決方案，從使用 powered curve tracing 測試小型芯片的開路/短路到使用 Latch Up testing 測試與更為復雜的多電路的芯片。
RTI's MT Century Curve Tracer
RTI 開發的 MT Century Curve Tracer 是一個性價比較高的曲線追蹤設備。MT Century Curve Tracer 測試設備，最多到 96 個 channel，提供 4 種型號可供客戶選擇，一定會找到一款符合客戶的預算及測試要求的系統。MT Century Curve Tracer 與 RTI 其他大型 curve trace 擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他 RTI 機型一樣，MT Century 系統的設計有與 950 系列的及其它專用夾具連接的接口。
RTI's MultiTrace Test System
原來的自動曲線跟蹤器已經提供超過 10 年。這款系統可以最高檢測達 625 引腳。 它有各種尺寸可供選擇，以滿足最廣泛用戶的需求。
RTI's MultiTrace 625 引腳 PGA Fixture
RTI's MultiTrace 自動 DC Parametric 測試系統
StdTrace 軟件追踪報告
StdTrace 軟件報告
大量的參考資料
測試排列軟件
MultiTrace 的應用：
無源曲線追蹤器 (Unpowered Curve Tracing)：
檢測開路，短路和漏電流
有源曲線追蹤器 (Powered Curve Tracing)：
檢測漏電流，供電電流問題。 測量大量有用的參數
電源電流測量 (Supply Current Measurements)：
兩種方法來測量電流供應。
A 6-Bus 系統可同時對3組電源測量
Latch Up 測試：(選配)
根據 JESD 78 特徵, 找出 Latch-Up 敏感度
基礎 Curve Tracing 的應用：
Input-Output 轉換功能：
將輸入電壓接到引腳上，測量輸出引腳電平變化對晶體管做曲線分析：
檢測任何型號的晶體管顯微鏡：
使用顯微鏡定位原件的損傷部位 IDDQ 測試：
測量芯片每個狀態的電流輸入功能性的引導能力：
Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing
根據所輸入信息改變輸入 Pin的狀態，然后進行量測。測量輸出區域的功能測試狀態。Kelvin 4-Wire 阻力測試：
使用這種特制的應用軟件來控制開關矩陣和收集的數據，實現精密的電阻測量。
RTI's MegaTrace 自動直流參數曲線追蹤
MegaTrace 由 648 引腳開始一直到 2160 的引腳，因此其有足夠的能力來測試幾乎任何芯片。機器集成化較高，機台很容易移動，也可以與其他儀器如顯微鏡，探針台，以及其他遠程測試機器一起使用。
曲線追蹤功能
• Unpowered 曲線追蹤 (連續測試)
• Powered 曲線追蹤
• Supply Current Characterization (Idd 測試)
• 6 條總線系統的 2VDD 及 3VDD 測試
其它測量及測試功能
• Latch-Up 測試
• 功能性預處理
• 任何的 ±15V 一& ±1A 直流測量
