Spectrum TEQ-EL 電致發光量子效率測量系統

SpectrumTEQ-EL 系列電致發光量子效率測量系統，針對發光器件的光電特性進行有效測量，系統搭配 QE Pro 光譜儀為業內公認旗艦系列，具有高信噪比、低雜散光等特性，可確保測量結果的准確性。同時，系統配有強大測試軟件，對話框式軟件操作介面讓測試過程更簡單。

SpectrumTEQ-PL 光致發光量子效率測量系統

SpectrumTEQ-PL 系列光致發光量子效率測量系統，針對器件的光致發光特性進行有效測量，可在手套箱內完成搭建，無需取出樣品，即可完成光致發光量子效率測試。系統搭配 QE Pro 光譜儀為業內公認旗艦系列，信噪比高、雜散光低，動態范圍大，適合不同波段和強度的激發光和發射光測量。同時，系統配有強大測試軟件，向導式軟件操作邏輯讓測試過程更簡單，迅速。