半導體晶圓級測試探針卡

牡羊座 ARIES 系列 

驅動芯片探針卡

- 多同測數 (1/1.2/2/2.4/4/4.8 DUT, 等)

- 探針數至 3,000 以上

- 微間距 (Inline > 15um)

- 可支持高速環境至 6Gbps 和所有主流測試機台

圖像傳感器測試探針卡

- 可更換式探針裝罝，可進行成本

- 高速 (800Mbps) 的 LVDS / MIPI 信號，和低雜訊 (<30mV) 的屏蔽電子信號

- 多站點高針數，微間距 (>60um)

垂直式探針卡 (V93K/T2K)

- 垂直式探針卡 (Cobra, Pogo, Wire) 配搭可置換間距的轉換板可用於高速高頻測試 (50GHz)

- 高強度易置換間距轉換板溫度範圍廣 (200oC) 且高速穩定

- 多迥站點高針數，微間距 (> 60um)

- 垂直式探針卡可應用於 V93K, T2K, Ultra-Flex 等

半導體晶片允收測試探針卡

處女座 VIRGO 系列

參數/可靠性測試探針卡

- 提供精確的低漏電流電壓參數與 SPICE 測試

- 針對低滑行量觸點，可提供高溫可靠性測試

- 高功率 BCD 元器件探測可高達 1000V/1A (DC)
 與 1000V/6A (pulsed)

- 可依照客戶測試需求提供優化的設計

射頻測試探針卡

- 高帶寬懸臂式探針卡的設計，可應用在工程和生

 產的高速 (sub-ns 上升時間) 參數測試,如快速

  BTI, 脈衝 IV, 閃存, RAM 等等

- 良好的高頻性能和穩定的探頭,可長壽命探測

- 高達最高攝氏 -200oC 的選項