失效分析(FA/QA)

失效分析(FA/QA)


3D光學顯微鏡 (1)3D光學顯微鏡 (1)
推拉力測試儀 (1)推拉力測試儀 (1)
激光開封 (0)激光開封 (0)
等離子及化學開封 (1)等離子及化學開封 (1)
自動曲線追蹤儀 (1)自動曲線追蹤儀 (1)
超聲波掃描顯微鏡 (1)超聲波掃描顯微鏡 (1)
高分辨率X射線檢測設備 (1)高分辨率X射線檢測設備 (1)
高分辨率脈衝時域反射計（TDR）/透射計(TDT) (1)高分辨率脈衝時域反射計（TDR）/透射計(TDT) (1)
對比(0)
顯示
排序方式
Nisene - 自動塑封開封設備

Nisene - 自動塑封開封設備

自動塑封開封設備  JetEtch Pro 開封機 Nisene 新型 JetEtch Pro 開封機秉持著對半導體去除處理的一貫的承諾，為符合現在直至將來失效分析專業需求而提供的高..

$0.00

查詢
收藏
對比