STAr


思達科技成立於2000年,提供知識產權、軟件、硬件、耗材與專業服務,以滿足半導體業界的需求和挑戰。專精的領域,涵蓋參數電性測試(E-Test)、晶圓級和封裝級可靠性測試 (WLR&PLR)、混合信號測試、組裝和封裝服務、測試探針卡、負載板和測試耗材。

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STAr - 晶圓測試探針卡

半導體晶圓級測試探針卡牡羊座 ARIES 系列 驅動芯片探針卡- 多同測數 (1/1.2/2/2.4/4/4.8 DUT, 等)- 探針數至 3,000 以上- 微間距 (Inline &g..

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STAr - 晶圓級/封裝級可靠性測試 (電遷移,經時介質擊穿)

射手座 Sagittarius 系列參數測試平台- 適用於機架堆棧式或模塊化儀器設備- 可選擇集成化的直流 (DC),射頻 (RF),交流 (AC),脈衝 (Pulsed),高功率 (High-pow..

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